ML-850兩用涂層測(cè)厚儀

兩用涂層測(cè)厚儀概述
涂層測(cè)厚儀采用磁性、渦流兩種測(cè)厚方法，可無(wú)損傷地檢測(cè)磁性金屬基鐵（如：鐵、鋼、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆層的厚度（如：鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）本儀器廣泛地應(yīng)用于一切金屬表面涂層。
1）本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 4956-1985 磁性金屬基體上非磁性覆層厚度的測(cè)量（磁性方法）
GB/T 4957-1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆層厚度的測(cè)量（渦流方法）
JB/T 8393-1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)厚儀
2）特點(diǎn)：
便攜設(shè)計(jì)，手掌大小
采用DSP芯片，具有快速的測(cè)量能力
人性化設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)單操作。
在雙用探頭時(shí)自動(dòng)識(shí)別鐵基和非鐵基材質(zhì)，無(wú)需手動(dòng)轉(zhuǎn)換
兩種校準(zhǔn)方式，零點(diǎn)校準(zhǔn)和二點(diǎn)校準(zhǔn)
寬角度LCD液晶顯示
公制和英制單位轉(zhuǎn)換
具有電源欠電壓提示
操作過程有蜂鳴聲提示
具有自動(dòng)關(guān)機(jī)功能
3)測(cè)量原理
a)磁性法
當(dāng)測(cè)頭與覆層接觸時(shí)，測(cè)頭與磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆層的存在，使磁路磁阻發(fā)生變化，通過測(cè)量其變化量，可測(cè)得其覆層的厚度。
b)渦流法
利用高頻交變電流線圈中產(chǎn)生一磁場(chǎng)，當(dāng)測(cè)頭與金屬接觸時(shí)，金屬基體上會(huì)產(chǎn)生渦流，并對(duì)測(cè)頭具有反饋?zhàn)饔?，通過其反饋?zhàn)饔玫拇笮】蓽y(cè)出覆層厚度
涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
1.測(cè)量范圍：0-1500um
2.工作電源：兩節(jié)五號(hào)電池
3.測(cè)量精誤查：零點(diǎn)校準(zhǔn) ±（1.5+3%H）；二點(diǎn)校準(zhǔn)±【（1%～3%H）】H+1.5
4.環(huán)境溫度0-40℃
5.相對(duì)濕度≤85%
6.z小基體10*10mm
7.z小曲率凸5mm;凹5mm
8.Z薄基體：0.4mm
9.重量：240克（含電池）
10.尺寸150mm*74mm*32mm